AM220涂层测厚仪 - 北京时代光南科技有限公司
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AM220涂层测厚仪
仪器特点: ●采用了磁性和涡流两种测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 ●分体(传感器与仪器之间通过引线连接)、两用(F型或N型) ●独特的温度补偿算法 ●支持语音播报 ●有五个统计量:平均值( MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数( NO.)、标准偏差(S.DEV) ●具有存贮功能:可存贮500个测量值 技术参数: 测头类型 F N 工作原理 磁感应 电涡流 测量范围 0~1250μm 0~1250μm其中:铜上 镀铬(0~40μm) 分辨力 0.1μm(0~100μm) 1μm(>100μm) 测量误差 3%H+1μm (H为测量范围) 示值误差 一点校准(μm) ±(3%H+1) ±(3%H+1.5) 二点校准(μm) ±[(1~3)%H+1] ±[(1~3)%H+1.5] 测试条件  最小曲率半径(mm) 凸1.5 凸3 最小面积的直径(mm) Φ7 Φ5 基体临界厚度(mm) 0.5 0.3 工作电压 3*1.5V 外形尺寸 159mm*72mm*28mm 整机重量 440g 标准配置 主机、探头(F或N)、基体(铁或铝)、标准片 可选探头参数: 探头型号 F400 F1 F1/90 F10 N1 CN02 工作原理 磁感应 电涡流 测量范围(μm) 0-400 0-1250 0-10000 0-1250 (铜上镀铬0-40μm) 10-200 低限分辨力(μm) 0.1 0.1 10 0.1 1 示值误差 一点校准(μm) ±(3%H+1) ±(3%H+10) ±(3%H+1.5) ±(3%H+1) 二点校准(μm) ±[(1-3)%H+0.7] ±[(1-3)%H+1] ±[(1-3)%H+10] ±[(1-3)%H+1.5] — 测试条件 最小曲面半径 (mm) 凸1 凸1.5 平直 10 3 平直 基体最小面积 的直径(mm) Φ3 Φ7 Φ7 Φ40 Φ5 Φ7 最小临界厚度(mm) 0.2 0.5 0.5 2 0.3 无限制
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