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涂层测厚仪探头

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产品介绍

涂层测厚仪探头

F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是AM200,TT260的标配探头。

涂层测厚仪F1探头

涂层测厚仪F1探头

工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
测量范围：0-1250um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+1]um
2. 两点校准：±[(1～3)%H+1]um
测量条件:
1. 最小曲率半径：凸1.5mm
2. 基体最小面积的直径：Ф7mm
3. 最小临界厚度：0.5mm
探头尺寸：Ф12X47mm

N1探头是涡流法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是AM200,TT260的标配探头。

涂层测厚仪N1探头

涂层测厚仪N1探头

工作原理：电涡流 | 分辨力：0.1um
测量范围：0-1250 | 铜上镀铬0-40um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+1]um
2. 两点校准：±[(1～3)%H+1]um
测量条件:
1. 最小曲率半径：凸3mm
2. 基体最小面积的直径：Ф5mm
3. 最小临界厚度：0.3mm
探头尺寸：Ф15X73mm

F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更精确的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是最佳的选择。

涂层测厚仪F400探头

涂层测厚仪F400探头

工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
测量范围：0-400um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+1]um
2. 两点校准：±[(1～3)%H+0.7]um
测量条件:
1. 最小曲率半径：凸1mm
2. 基体最小面积的直径：Ф3mm
3. 最小临界厚度：0.2mm
探头尺寸：Ф12X55mm

F10探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。

涂层测厚仪F10探头

涂层测厚仪F10探头

工作原理：磁感应 | 分辨力：10um
测量范围：0-10000um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+10]um
2. 两点校准：±[(1～3)%H+10]um
测量条件:
1. 最小曲率半径：凸10mm
2. 基体最小面积的直径：Ф40mm
3. 最小临界厚度：2mm
探头尺寸：Ф27X47mm

CN02探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10-200um之间。

涂层测厚仪CN02探头

涂层测厚仪CN02探头

工作原理：电涡流 | 分辨力：1um
测量范围：10-200um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+1]um
2. 两点校准：—
测量条件:
1. 最小曲率半径：平直
2. 基体最小面积的直径：Ф7mm
3. 最小临界厚度：无限制
探头尺寸：Ф16X67mm

F1/90探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。

涂层测厚仪F1|90探头

涂层测厚仪F1|90探头

工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
测量范围：0-1250um
示值误差：
1. 一点校准：±[3%H+1]um
2. 两点校准：±[(1～3)%H+1]um
测量条件:
1. 最小曲率半径：平直
2. 基体最小面积的直径：Ф7mm
3. 最小临界厚度：0.5mm
探头尺寸：Ф7.5X11X200mm

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